借助第二代VST，工程師能夠以20 MHz的帶寬同步測量和生成多達32個LTE載波，并使用軟件來定義各種載波間距方案。
最新版本的NI-RFmx還可通過算法優(yōu)化來縮短測量時間。工程師在執(zhí)行UMTS/HSPA+和LTE/LTE-Advanced Pro等無線技術的調制和頻譜測量時，可安裝最新版本的軟件，將EVM測量時間縮短高達33%。NI-RFmx在測量速度的優(yōu)化體現了NI始終致力于幫助用戶以更低成本獲得更快的測量速度。
“通過采用PXI和LabVIEW以及NI-RFmx測量軟件，我們看到許多半導體行業(yè)的客戶大大縮短了RF測量的測試時間，進而降低了測試成本，縮短了上市時間。”NI RF副總裁Charles Schroeder表示，“清晰的文檔描述、豐富的示例代碼和與第二代VST等PXI硬件的緊密集成，使我們的客戶能夠快速輕松地將NI-RFmx應用到測試系統中。”
除了算法改進之外，NI-RFmx還增加了對互調失真、三階截距以及Y因子和冷源噪聲系數等測量的支持。 這些測量可輕松與PXIe-5668R射頻信號分析儀集成，工程師可輕松配置互調失真和噪聲系數測試?，F有NI-RFmx用戶可以點擊此處下載并使用最新版本。
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