自從ISO 26262于2011年底發(fā)布后，已迅速成為全球各大車廠力推的汽車電子安全性標準；此定義了3.5噸以下乘用車中有關(guān)電子系統(tǒng)的功能安全規(guī)范，并依據(jù)汽車整合等級（ASIL）區(qū)分成A（最低）至D（最高）等級，等級愈高的系統(tǒng)安全考量愈嚴謹。藉由通過球共通的產(chǎn)品標準認證，切入國際車廠供應鏈可缺乏強大車輛研發(fā)能量的產(chǎn)業(yè)缺口。
 
　　隨著Google、Apple等國際資通訊大廠跨入汽車電子產(chǎn)業(yè)，電子化產(chǎn)品應用車內(nèi)比例逐漸攀升，根據(jù)工研院IEK分析，全球汽車電子在2019年可達3,011億美元，其中車用安全電子系統(tǒng)為240.6億美元，是新興電子市場中成長最為強勁的區(qū)塊，這對臺灣想進入汽車電子產(chǎn)業(yè)廠商創(chuàng)造了絕佳機會。
 
　　「道路車輛的功能安全標準（Road Vehicle-Functional Safety）」第一版于2011年11月14日正式發(fā)布，內(nèi)容自IEC 61508功能安全標準延伸，算是汽車功能安全標準延伸。此安全標準定義了3.5噸以下乘用車中有關(guān)電子系統(tǒng)的功能安全規(guī)范，并依據(jù)安性區(qū)分了QM、ASIL A至ASIL D各種安全等級，以ASIL D為最高安全等級，目前已廣泛被歐、美日系車廠所接受，中國也規(guī)劃于2016年納入國家標準。
 
　　BIST (Built-In Self-Test)是內(nèi)嵌式內(nèi)存測試的一種標準。過去幾年來，記憶體的BIST需求，隨著各種新興市場包括汽車電子的需求日益增高?，F(xiàn)今的內(nèi)存測試解決方案需要支援各種先進內(nèi)存檢測與診斷方案和利用內(nèi)嵌式修復技術(shù)(BISR, Built-In Self-Repair)來提高良率。
 
　　汽車電子產(chǎn)業(yè)日益蓬勃發(fā)展，其電子產(chǎn)品可靠度的需求被定義在ISO 26262內(nèi)。汽車電子IC須具備更高的可靠度與品質(zhì)才能進入對于產(chǎn)品安全性要求極高的汽車電子的市場。針對汽車電子的IC，ISO 26262規(guī)范此類IC需要更高的可靠度的測試等級，內(nèi)存BIST的功能被要求可支援Power-On Self-Test。
 
　　Power-On Self-Test就是當3.5噸以下乘用車被啟動時，所有的電子零件必須被檢測以確保電子零件是否安全，這樣的測試流程就是所謂的Power-On Self-Test。
 
　　為支持Power-On Self-Test，厚翼科技提出了Brains嵌入式內(nèi)存方案，加上HEART嵌入式內(nèi)存修復(BISR)方案，結(jié)合二者達到Power-On Self-Test的要求。圖一為Power-On Self-Test架構(gòu)圖，圖二為Brains加上HEART的架構(gòu)圖。 
 
　　Brains將傳統(tǒng)的BIST架構(gòu)做了很大的變革，Brains充分利用硬體架構(gòu)共享(Hardware Sharing)的設(shè)計來達到最佳化的面積和測試時間。Brains由控制單元(Controller)、序列控制單元(Sequencer)和測試樣本產(chǎn)生單元(Test Pattern Generator)所構(gòu)成。其中控制單元負責Brains的功能與測試演算法選擇，序列控制單元負責硬體架構(gòu)分享、測試演算法的執(zhí)行和記憶群順序安排，測試樣本產(chǎn)生單元則負責結(jié)果比對與快速內(nèi)存。此外Brains采用管線式(Pipeline)架構(gòu)設(shè)計，所以可達到快速架構(gòu)設(shè)計，所以可達到快速(At-Speed)內(nèi)存測試以滿足許多汽車電子內(nèi)存測試的測試需求。此外，Brains可以自動做系統(tǒng)晶片(SoC)內(nèi)的內(nèi)存分群與判別，更提供使用者自行定義內(nèi)的內(nèi)存分群與判別，并提供圖形界面(GUI)和命令模式(Command Mode)兩種操作模式滿足各類工程人員的開發(fā)需求。
 
　　HEART(High Efficient Accumulative Repair Technical)乃是基于Brains的檢測結(jié)果進行記憶的檢測結(jié)果進行記憶的檢測結(jié)果進行記憶的檢測結(jié)果進行內(nèi)存的修復工程。HEART采用累加式(Accumulative)內(nèi)存修復技術(shù)，結(jié)合軟體修復(Soft-Repair)和硬體修復(Hard-Repair)的優(yōu)點，讓整體的記憶修復可以彈性化重復，HEART的累加式修復技術(shù)可以針對安全性與可靠度需求極高的汽車電子IC，提供更完整的內(nèi)存測試與修復方案。
 
　　Brains加上HEART可以達到Power-On Self-Test的要求。當交通工具啟動時，Brains立刻進行內(nèi)存檢測，HEART則利用Brains的檢測結(jié)果進行錯誤內(nèi)存(Faulty Memory)的修復工作。以上流程即可滿足ISO 26262中的功能安全(Functional Safety)中針對汽車電子產(chǎn)品的安全性與可靠度線上測試需求。
 
　　ISO 26262有助于汽車OEM廠商和IC供應商研發(fā)車輛安全性相關(guān)系統(tǒng)，但是有許多廠商卻在遵循這套嚴格規(guī)范的新標準過程中遇上不少困難，原因就在于汽車電子中所用的內(nèi)存數(shù)量與日俱增，導致系統(tǒng)愈來復雜?；?0%的汽車功能、差異性區(qū)隔和創(chuàng)新都要仰賴儲存于內(nèi)存中的軟和一些電子元件，這些廠商就會面臨缺乏安全性生命周期測試流程的支援和自動化挑戰(zhàn)。面對這些棘手問題，Brains和HEART可協(xié)助汽車制造業(yè)者克服難題，讓他們減少為符合ISO26262標準所花費的成本和時間。