EFlash BIST是一個客制化的IP，此客制化的EFlash BIST IP將可以大幅度的縮短EFlash的測試時間
因應
物聯(lián)網(wǎng)(IoT)時代來臨，硬件價格不斷下滑讓所有參與開發(fā)物聯(lián)網(wǎng)設備的業(yè)者都備感壓力，特別是致力于開發(fā)智慧服務和產(chǎn)品的『創(chuàng)客』們。厚翼科技（HOY Technologies）因而提出嵌入式快閃記憶體的測試解決方案（EFlash BIST），通過改變傳統(tǒng)的BIST架構(gòu)，EFlash BIST充分利用硬體架構(gòu)分享 (Hardware Sharing) 的設計來達到最佳化的面積和測試時間。
EFlash BIST是一個客制化的IP，此客制化的EFlash BIST IP將可以大幅度的縮短EFlash的測試時間。傳統(tǒng)的EFlash測試方案可以直接使用自動化測試機臺（Automation Test Equipment; ATE）或是使用EFlash的供應商提供的BIST。采用ATE做EFlash的測試，由于測試時間過長，導致測試費用太高，相當不符合物聯(lián)網(wǎng)開發(fā)平臺對于費用的要求。然而，采用EFlash供應商提供的BIST方案，對于使用者而言，非常難以在短時間內(nèi)將BIST電路與EFlash做整合（圖1），導致整個物聯(lián)網(wǎng)晶片的開發(fā)時間過長。
圖1：傳統(tǒng)的EFlash BIST的實現(xiàn)流程
基于以上兩點使用上的不便之處，厚翼科技將傳統(tǒng)的EFlash BIST的實現(xiàn)流程簡化如下（圖2）。
圖2：厚翼科技的EFlash BIST的實現(xiàn)流程
厚翼科技的EFlash BIST IP可根據(jù)客戶在測試項目上的需求提供各項測試方案如CP1、CP2、CP4、FT等測試項目。此外，厚翼科技的EFlash BIST IP僅需要非常少的測試針腳（Pin），并且厚翼科技的EFlash BIST IP可以提供下列可程式化（Programmable）的功能包括Change ATE Setting、Algorithm、Program Time、Erase Time、Address Sequence、Data Background等。厚翼科技的EFlash BIST IP更可以提供診斷（Diagnosis）方案，包括Algorithm、Command、Address、Data等，讓物聯(lián)網(wǎng)晶片開發(fā)商作為晶片錯誤分析的依據(jù)。
該公司表示，如何降低物聯(lián)網(wǎng)相關晶片的價格，成為物聯(lián)網(wǎng)商務模式一個值得探討的課題。物聯(lián)網(wǎng)晶片的硬體架構(gòu)都需要嵌入式快閃記憶體（Embedded Flash; EFlash）來儲存程式（Program）。所以EFlash的測試費用也會決定物聯(lián)網(wǎng)晶片的開發(fā)成本，在這微利時代且錙銖必較的物聯(lián)網(wǎng)開發(fā)平臺上，成本將是關鍵，它會決定此物聯(lián)網(wǎng)開發(fā)平臺是否將會廣泛被『創(chuàng)客』采用！
過去幾年來，記憶體的BIST需求，隨著各種新興市場包括物聯(lián)網(wǎng)與車用電子的需求而日益增高，現(xiàn)今的記憶體測試解決方案需要支援各種型態(tài)的記憶體檢測方案包括嵌入式快閃記憶體（Embedded Flash; EFlash）靜態(tài)隨機存取記憶體（Static Random Access Memory; SRAM）、動態(tài)隨機存取記憶體（Dynamic Random Access Memory; DRAM）等。
免責聲明：本站所使用的字體和圖片文字等素材部分來源于互聯(lián)網(wǎng)共享平臺。如使用任何字體和圖片文字有冒犯其版權(quán)所有方的，皆為無意。如您是字體廠商、圖片文字廠商等版權(quán)方，且不允許本站使用您的字體和圖片文字等素材，請聯(lián)系我們，本站核實后將立即刪除！任何版權(quán)方從未通知聯(lián)系本站管理者停止使用，并索要賠償或上訴法院的，均視為新型網(wǎng)絡碰瓷及敲詐勒索，將不予任何的法律和經(jīng)濟賠償！敬請諒解！
粵公網(wǎng)安備 44030402000264號
